e_test_util: Added some macro functions for test event. 59/257559/1
authorJunseok, Kim <juns.kim@samsung.com>
Tue, 27 Apr 2021 11:29:37 +0000 (20:29 +0900)
committerJunseok, Kim <juns.kim@samsung.com>
Tue, 27 Apr 2021 12:04:40 +0000 (21:04 +0900)
commitafa37450a6b158e74408b36b2d3fc93dc9aebead
tree7fda297cbcdb36b9e2d6e6b65e4be2e5d68c2e69
parent11a65812f1f4eee514aaa6cee325a17b113bb898
e_test_util: Added some macro functions for test event.

Added some macro functions for test event as below
- ASSERT_EVENT : for test other events except below
- ASSERT_VIS_ON/OFF : for test visibility event
- ASSERT_ROTATION : for test rotation event
- ASSERT_FOCUS_IN/OUT : for test focus event
- ASSERT_HINT : for test aux hint event.

Change-Id: Ib3ef4866edf7025f3d406a03130153a9046445c2
src/e_test_base.h
src/e_test_util.h