eio: update test to use the new EINA_VALUE_ARRAY_FOREACH.
authorCedric BAIL <cedric@osg.samsung.com>
Mon, 5 Mar 2018 21:48:31 +0000 (13:48 -0800)
committerWonki Kim <wonki_.kim@samsung.com>
Thu, 31 May 2018 07:00:47 +0000 (16:00 +0900)
src/tests/eio/eio_test_manager_xattr.c

index e3e98f6..698843e 100644 (file)
@@ -73,7 +73,7 @@ _future_done_cb(void *data EINA_UNUSED,
         fprintf(stderr, "Something has gone wrong: %s\n", eina_error_msg_get(err));
         abort();
      }
-   EINA_VALUE_ARRAY_FOREACH(&array, len, i, &v)
+   EINA_VALUE_ARRAY_FOREACH(&array, len, i, v)
      {
         buf = eina_value_to_binbuf(&v);
         fail_if(!buf);
@@ -103,7 +103,7 @@ _future_all_cb(void *data,
         fprintf(stderr, "Something has gone wrong: %s\n", eina_error_msg_get(err));
         abort();
      }
-   EINA_VALUE_ARRAY_FOREACH(&array, len, i, &v)
+   EINA_VALUE_ARRAY_FOREACH(&array, len, i, v)
      {
         if (v.type == EINA_VALUE_TYPE_ERROR)
           {