Fix swapchain mutable tests buffer allocations
authorLionel Landwerlin <lionel.g.landwerlin@intel.com>
Wed, 23 Jan 2019 18:29:34 +0000 (18:29 +0000)
committerAlexander Galazin <Alexander.Galazin@arm.com>
Mon, 4 Feb 2019 13:32:20 +0000 (08:32 -0500)
commitb48fc89ada2a1b88796d1354d10210928b1fbf0d
tree87bae46087dd2b1e9125ab4bc62a8ef504cd6ec4
parent32c5716ea38209896124f963f7e66e3193d704b7
Fix swapchain mutable tests buffer allocations

We're seeing failure on our implementation and those seem to be
related to the fact that some buffers are allocated with one VkDevice
and used with another VkDevice. This raises errors in the validation
layers :

   Validation(ERROR): msg_code: 385926663:
   [ VUID-vkBindBufferMemory-memory-parent ] Object: 0x6 (Type = 8) |
   Object 0x6 was not created, allocated or retrieved from the correct
   device. The spec valid usage text states 'memory must have been
   created, allocated, or retrieved from device'

Affects: dEQP-VK.image.swapchain_mutable.*

Change-Id: I4d3c62dace2d259061382d3014deb05bc4eac9d7
external/vulkancts/modules/vulkan/image/vktImageMutableTests.cpp