Fix swapchain mutable tests buffer allocations
authorLionel Landwerlin <lionel.g.landwerlin@intel.com>
Wed, 23 Jan 2019 18:29:34 +0000 (18:29 +0000)
committerAlexander Galazin <Alexander.Galazin@arm.com>
Thu, 21 Feb 2019 16:20:18 +0000 (11:20 -0500)
commit9ee1886f753d5985251e10e4c02a55a0e4808785
tree9a272fb98254e3a22c259544446b574ce3092d53
parent38acf16e8c9edf9415a1afc780ae401d78be5424
Fix swapchain mutable tests buffer allocations

We're seeing failure on our implementation and those seem to be
related to the fact that some buffers are allocated with one VkDevice
and used with another VkDevice. This raises errors in the validation
layers :

   Validation(ERROR): msg_code: 385926663:
   [ VUID-vkBindBufferMemory-memory-parent ] Object: 0x6 (Type = 8) |
   Object 0x6 was not created, allocated or retrieved from the correct
   device. The spec valid usage text states 'memory must have been
   created, allocated, or retrieved from device'

Affects: dEQP-VK.image.swapchain_mutable.*

Change-Id: I4d3c62dace2d259061382d3014deb05bc4eac9d7
(cherry picked from commit b48fc89ada2a1b88796d1354d10210928b1fbf0d)
external/vulkancts/modules/vulkan/image/vktImageMutableTests.cpp