Changes of the last week:
authorJan Patera <patera@pictview.com>
Thu, 10 May 2007 17:03:15 +0000 (19:03 +0200)
committerJan Patera <patera@pictview.com>
Thu, 10 May 2007 17:03:15 +0000 (19:03 +0200)
commit72a214d94fcda1e26438c765cca4fb2329101684
treeba629a016ac4618f8583170f00f55be1c21b4ba1
parentf61be3fca4371ed65a4f8af1842cd5eedb081a6b
Changes of the last week:
* Added support for Olympus S760 & S770 makernote (bug #1703284)
* Fixed crashes when looking up invalid values (bug #1457501)
* Added heuristics (bug #1525770): mismatching Olympus makernote
  in big endian when the rest is in little endian is detected
  to prevent crashes
* Added option EXIF_DATA_OPTION_DONT_CHANGE_MAKER_NOTE to prevent
  modification of maker notes
* EXIF_DATA_OPTION_IGNORE_UNKNOWN_TAGS propagated to Canon makernote
  (Bug #1617991)
* Updated several tags
* Updated translations
ChangeLog
NEWS