tests: Fix leak of input event & devices
authorJean-Philippe Andre <jp.andre@samsung.com>
Thu, 28 Sep 2017 02:57:51 +0000 (11:57 +0900)
committerJean-Philippe Andre <jp.andre@samsung.com>
Thu, 28 Sep 2017 03:30:36 +0000 (12:30 +0900)
commit6bed255fc4bbe1b30c960339e8dda2fc6e7925cd
treec1379b49659e4580ad1dfad8ad212faf6518b693
parent96d94e0076773d6b29107035dc61f5df01a3347f
tests: Fix leak of input event & devices

After the previous patch, the caller of efl_input_dup() clearly owns the
reference on the returned object, which means she must absolutely delete
or unref if manually.

Note that the previous patch changed the bug from use of invalid eo
pointer to leaking of objects. But the only way to support bindings with
something like dup() is to ensure we give a ref to the caller, and thus
the parent should be null.

Note: eo_debug was used extensively to reach this point.
src/bin/elementary/test_events.c