of/unittest: Fix of_platform_depopulate test case
authorGrant Likely <grant.likely@linaro.org>
Sat, 28 Mar 2015 03:30:04 +0000 (20:30 -0700)
committerGrant Likely <grant.likely@linaro.org>
Sun, 29 Mar 2015 07:56:20 +0000 (08:56 +0100)
commit37791b6fbe7ab772020e714d34515f144fa981a0
tree32b4e3426cd3112e705c63e8ea02f93c101516a3
parent716e1d493a8717251158c708b2f161017bdcb3f9
of/unittest: Fix of_platform_depopulate test case

The previous commit, "of/unittest: early return from test skips tests"
exposed broken tests for the of_platform_unpopulate() function. The
problem was the populate and depopulate calls were not symmetrical like
they were intended to be, and unpopulate depends on the parent device to
have it's of_node pointer pointing to the parent device node. Fix these
bugs so that the test case works correctly.

In the process, the test_bus used as a container for the test devices
has been changed from a statically allocated struct device (which is
bad) to a properly allocated device with a .release() method (which is
good). This stops the test code from being a bad example of abusing the
device model.

Signed-off-by: Grant Likely <grant.likely@linaro.org>
Cc: Frank Rowand <frank.rowand@sonymobile.com>
Cc: Pantelis Antoniou <pantelis.antoniou@konsulko.com>
Cc: Pawel Moll <pawel.moll@arm.com>
drivers/of/unittest.c