tizen_src/ewk/unittest/utc_blink_ewk_hit_test_result_context_get_func.cpp

   1 // Copyright 2014 Samsung Electronics. All rights reserved.
   2 // Use of this source code is governed by a BSD-style license that can be
   3 // found in the LICENSE file.
   4
   5 #include "utc_blink_ewk_hit_test_request_base.h"
   6
   7 class utc_blink_ewk_hit_test_result_context_get : public utc_blink_ewk_hit_test_request_base {
   8 protected:
   9   void CheckHitTest(Ewk_Hit_Test* hit_test) override {
  10     ASSERT_TRUE(ewk_hit_test_image_uri_get(hit_test));
  11   }
  12
  13   static const char* const test_path;
  14 };
  15
  16 const char* const utc_blink_ewk_hit_test_result_context_get::test_path = "/ewk_hit_test/index.html";
  17
  18 /**
  19  * @brief Checking whether the context of the hit test is returned properly.
  20  */
  21 TEST_F(utc_blink_ewk_hit_test_result_context_get, POS_TEST1)
  22 {
  23   ASSERT_EQ(EINA_TRUE, ewk_view_url_set(GetEwkWebView(), GetResourceUrl(test_path).c_str()));
  24   ASSERT_EQ(Success, EventLoopStart());
  25
  26   ewk_view_hit_test_request(GetEwkWebView(), 200, 200, EWK_HIT_TEST_MODE_DEFAULT, hit_test_result, this);
  27   ASSERT_EQ(Success, EventLoopStart());
  28 }
  29
  30 /**
  31  * @brief Checking whether function works properly in case of NULL of a hit test instance.
  32  */
  33 TEST_F(utc_blink_ewk_hit_test_result_context_get, NEG_TEST1)
  34 {
  35   utc_check_eq(ewk_hit_test_result_context_get(NULL), EWK_HIT_TEST_RESULT_CONTEXT_DOCUMENT);
  36 }