Prepare v2023.10
[platform/kernel/u-boot.git] / drivers / mtd / onenand / onenand_bbt.c
1 /*
2  *  linux/drivers/mtd/onenand/onenand_bbt.c
3  *
4  *  Bad Block Table support for the OneNAND driver
5  *
6  *  Copyright(c) 2005-2008 Samsung Electronics
7  *  Kyungmin Park <kyungmin.park@samsung.com>
8  *
9  *  TODO:
10  *    Split BBT core and chip specific BBT.
11  *
12  * This program is free software; you can redistribute it and/or modify
13  * it under the terms of the GNU General Public License version 2 as
14  * published by the Free Software Foundation.
15  */
16
17 #include <common.h>
18 #include <log.h>
19 #include <linux/compat.h>
20 #include <linux/mtd/mtd.h>
21 #include <linux/mtd/onenand.h>
22 #include <malloc.h>
23
24 #include <linux/errno.h>
25
26 /**
27  * check_short_pattern - [GENERIC] check if a pattern is in the buffer
28  * @param buf           the buffer to search
29  * @param len           the length of buffer to search
30  * @param paglen        the pagelength
31  * @param td            search pattern descriptor
32  *
33  * Check for a pattern at the given place. Used to search bad block
34  * tables and good / bad block identifiers. Same as check_pattern, but
35  * no optional empty check and the pattern is expected to start
36  * at offset 0.
37  */
38 static int check_short_pattern(uint8_t * buf, int len, int paglen,
39                                struct nand_bbt_descr *td)
40 {
41         int i;
42         uint8_t *p = buf;
43
44         /* Compare the pattern */
45         for (i = 0; i < td->len; i++) {
46                 if (p[i] != td->pattern[i])
47                         return -1;
48         }
49         return 0;
50 }
51
52 /**
53  * create_bbt - [GENERIC] Create a bad block table by scanning the device
54  * @param mtd           MTD device structure
55  * @param buf           temporary buffer
56  * @param bd            descriptor for the good/bad block search pattern
57  * @param chip          create the table for a specific chip, -1 read all chips.
58  *              Applies only if NAND_BBT_PERCHIP option is set
59  *
60  * Create a bad block table by scanning the device
61  * for the given good/bad block identify pattern
62  */
63 static int create_bbt(struct mtd_info *mtd, uint8_t * buf,
64                       struct nand_bbt_descr *bd, int chip)
65 {
66         struct onenand_chip *this = mtd->priv;
67         struct bbm_info *bbm = this->bbm;
68         int i, j, numblocks, len, scanlen;
69         int startblock;
70         loff_t from;
71         size_t readlen, ooblen;
72         struct mtd_oob_ops ops;
73         int rgn;
74
75         printk(KERN_INFO "Scanning device for bad blocks\n");
76
77         len = 1;
78
79         /* We need only read few bytes from the OOB area */
80         scanlen = ooblen = 0;
81         readlen = bd->len;
82
83         /* chip == -1 case only */
84         /* Note that numblocks is 2 * (real numblocks) here;
85          * see i += 2 below as it makses shifting and masking less painful
86          */
87         numblocks = this->chipsize >> (bbm->bbt_erase_shift - 1);
88         startblock = 0;
89         from = 0;
90
91         ops.mode = MTD_OPS_PLACE_OOB;
92         ops.ooblen = readlen;
93         ops.oobbuf = buf;
94         ops.len = ops.ooboffs = ops.retlen = ops.oobretlen = 0;
95
96         for (i = startblock; i < numblocks;) {
97                 int ret;
98
99                 for (j = 0; j < len; j++) {
100                         /* No need to read pages fully,
101                          * just read required OOB bytes */
102                         ret = onenand_bbt_read_oob(mtd,
103                                              from + j * mtd->writesize +
104                                              bd->offs, &ops);
105
106                         /* If it is a initial bad block, just ignore it */
107                         if (ret == ONENAND_BBT_READ_FATAL_ERROR)
108                                 return -EIO;
109
110                         if (ret || check_short_pattern
111                             (&buf[j * scanlen], scanlen, mtd->writesize, bd)) {
112                                 bbm->bbt[i >> 3] |= 0x03 << (i & 0x6);
113                                 printk(KERN_WARNING
114                                        "Bad eraseblock %d at 0x%08x\n", i >> 1,
115                                        (unsigned int)from);
116                                 break;
117                         }
118                 }
119                 i += 2;
120
121                 if (FLEXONENAND(this)) {
122                         rgn = flexonenand_region(mtd, from);
123                         from += mtd->eraseregions[rgn].erasesize;
124                 } else
125                         from += (1 << bbm->bbt_erase_shift);
126         }
127
128         return 0;
129 }
130
131 /**
132  * onenand_memory_bbt - [GENERIC] create a memory based bad block table
133  * @param mtd           MTD device structure
134  * @param bd            descriptor for the good/bad block search pattern
135  *
136  * The function creates a memory based bbt by scanning the device
137  * for manufacturer / software marked good / bad blocks
138  */
139 static inline int onenand_memory_bbt(struct mtd_info *mtd,
140                                      struct nand_bbt_descr *bd)
141 {
142         unsigned char data_buf[MAX_ONENAND_PAGESIZE];
143
144         return create_bbt(mtd, data_buf, bd, -1);
145 }
146
147 /**
148  * onenand_isbad_bbt - [OneNAND Interface] Check if a block is bad
149  * @param mtd           MTD device structure
150  * @param offs          offset in the device
151  * @param allowbbt      allow access to bad block table region
152  */
153 static int onenand_isbad_bbt(struct mtd_info *mtd, loff_t offs, int allowbbt)
154 {
155         struct onenand_chip *this = mtd->priv;
156         struct bbm_info *bbm = this->bbm;
157         int block;
158         uint8_t res;
159
160         /* Get block number * 2 */
161         block = (int) (onenand_block(this, offs) << 1);
162         res = (bbm->bbt[block >> 3] >> (block & 0x06)) & 0x03;
163
164         pr_debug("onenand_isbad_bbt: bbt info for offs 0x%08x: (block %d) 0x%02x\n",
165                  (unsigned int)offs, block >> 1, res);
166
167         switch ((int)res) {
168         case 0x00:
169                 return 0;
170         case 0x01:
171                 return 1;
172         case 0x02:
173                 return allowbbt ? 0 : 1;
174         }
175
176         return 1;
177 }
178
179 /**
180  * onenand_scan_bbt - [OneNAND Interface] scan, find, read and maybe create bad block table(s)
181  * @param mtd           MTD device structure
182  * @param bd            descriptor for the good/bad block search pattern
183  *
184  * The function checks, if a bad block table(s) is/are already
185  * available. If not it scans the device for manufacturer
186  * marked good / bad blocks and writes the bad block table(s) to
187  * the selected place.
188  *
189  * The bad block table memory is allocated here. It must be freed
190  * by calling the onenand_free_bbt function.
191  *
192  */
193 int onenand_scan_bbt(struct mtd_info *mtd, struct nand_bbt_descr *bd)
194 {
195         struct onenand_chip *this = mtd->priv;
196         struct bbm_info *bbm = this->bbm;
197         int len, ret = 0;
198
199         len = this->chipsize >> (this->erase_shift + 2);
200         /* Allocate memory (2bit per block) */
201         bbm->bbt = malloc(len);
202         if (!bbm->bbt)
203                 return -ENOMEM;
204         /* Clear the memory bad block table */
205         memset(bbm->bbt, 0x00, len);
206
207         /* Set the bad block position */
208         bbm->badblockpos = ONENAND_BADBLOCK_POS;
209
210         /* Set erase shift */
211         bbm->bbt_erase_shift = this->erase_shift;
212
213         if (!bbm->isbad_bbt)
214                 bbm->isbad_bbt = onenand_isbad_bbt;
215
216         /* Scan the device to build a memory based bad block table */
217         if ((ret = onenand_memory_bbt(mtd, bd))) {
218                 printk(KERN_ERR
219                        "onenand_scan_bbt: Can't scan flash and build the RAM-based BBT\n");
220                 free(bbm->bbt);
221                 bbm->bbt = NULL;
222         }
223
224         return ret;
225 }
226
227 /*
228  * Define some generic bad / good block scan pattern which are used
229  * while scanning a device for factory marked good / bad blocks.
230  */
231 static uint8_t scan_ff_pattern[] = { 0xff, 0xff };
232
233 static struct nand_bbt_descr largepage_memorybased = {
234         .options = 0,
235         .offs = 0,
236         .len = 2,
237         .pattern = scan_ff_pattern,
238 };
239
240 /**
241  * onenand_default_bbt - [OneNAND Interface] Select a default bad block table for the device
242  * @param mtd           MTD device structure
243  *
244  * This function selects the default bad block table
245  * support for the device and calls the onenand_scan_bbt function
246  */
247 int onenand_default_bbt(struct mtd_info *mtd)
248 {
249         struct onenand_chip *this = mtd->priv;
250         struct bbm_info *bbm;
251
252         this->bbm = malloc(sizeof(struct bbm_info));
253         if (!this->bbm)
254                 return -ENOMEM;
255
256         bbm = this->bbm;
257
258         memset(bbm, 0, sizeof(struct bbm_info));
259
260         /* 1KB page has same configuration as 2KB page */
261         if (!bbm->badblock_pattern)
262                 bbm->badblock_pattern = &largepage_memorybased;
263
264         return onenand_scan_bbt(mtd, bbm->badblock_pattern);
265 }