data/nist/Thurber.dat

   1 NIST/ITL StRD\r
   2 Dataset Name:  Thurber           (Thurber.dat)\r
   3 \r
   4 File Format:   ASCII\r
   5                Starting Values   (lines 41 to 47)\r
   6                Certified Values  (lines 41 to 52)\r
   7                Data              (lines 61 to 97)\r
   8 \r
   9 Procedure:     Nonlinear Least Squares Regression\r
  10 \r
  11 Description:   These data are the result of a NIST study involving\r
  12                semiconductor electron mobility.  The response \r
  13                variable is a measure of electron mobility, and the \r
  14                predictor variable is the natural log of the density.\r
  15 \r
  16 \r
  17 Reference:     Thurber, R., NIST (197?).  \r
  18                Semiconductor electron mobility modeling.\r
  19 \r
  20 \r
  21 \r
  22 \r
  23 \r
  24 \r
  25 Data:          1 Response Variable  (y = electron mobility)\r
  26                1 Predictor Variable (x = log[density])\r
  27                37 Observations\r
  28                Higher Level of Difficulty\r
  29                Observed Data\r
  30 \r
  31 Model:         Rational Class (cubic/cubic)\r
  32                7 Parameters (b1 to b7)\r
  33 \r
  34                y = (b1 + b2*x + b3*x**2 + b4*x**3) / \r
  35                    (1 + b5*x + b6*x**2 + b7*x**3)  +  e\r
  36 \r
  37 \r
  38           Starting Values                  Certified Values\r
  39 \r
  40         Start 1     Start 2           Parameter     Standard Deviation\r
  41   b1 =   1000        1300          1.2881396800E+03  4.6647963344E+00\r
  42   b2 =   1000        1500          1.4910792535E+03  3.9571156086E+01\r
  43   b3 =    400         500          5.8323836877E+02  2.8698696102E+01\r
  44   b4 =     40          75          7.5416644291E+01  5.5675370270E+00\r
  45   b5 =      0.7         1          9.6629502864E-01  3.1333340687E-02\r
  46   b6 =      0.3         0.4        3.9797285797E-01  1.4984928198E-02\r
  47   b7 =      0.03        0.05       4.9727297349E-02  6.5842344623E-03\r
  48 \r
  49 Residual Sum of Squares:                    5.6427082397E+03\r
  50 Residual Standard Deviation:                1.3714600784E+01\r
  51 Degrees of Freedom:                                30\r
  52 Number of Observations:                            37\r
  53 \r
  54 \r
  55 \r
  56 \r
  57 \r
  58 \r
  59 \r
  60 Data:   y             x\r
  61       80.574E0      -3.067E0\r
  62       84.248E0      -2.981E0\r
  63       87.264E0      -2.921E0\r
  64       87.195E0      -2.912E0\r
  65       89.076E0      -2.840E0\r
  66       89.608E0      -2.797E0\r
  67       89.868E0      -2.702E0\r
  68       90.101E0      -2.699E0\r
  69       92.405E0      -2.633E0\r
  70       95.854E0      -2.481E0\r
  71      100.696E0      -2.363E0\r
  72      101.060E0      -2.322E0\r
  73      401.672E0      -1.501E0\r
  74      390.724E0      -1.460E0\r
  75      567.534E0      -1.274E0\r
  76      635.316E0      -1.212E0\r
  77      733.054E0      -1.100E0\r
  78      759.087E0      -1.046E0\r
  79      894.206E0      -0.915E0\r
  80      990.785E0      -0.714E0\r
  81     1090.109E0      -0.566E0\r
  82     1080.914E0      -0.545E0\r
  83     1122.643E0      -0.400E0\r
  84     1178.351E0      -0.309E0\r
  85     1260.531E0      -0.109E0\r
  86     1273.514E0      -0.103E0\r
  87     1288.339E0       0.010E0\r
  88     1327.543E0       0.119E0\r
  89     1353.863E0       0.377E0\r
  90     1414.509E0       0.790E0\r
  91     1425.208E0       0.963E0\r
  92     1421.384E0       1.006E0\r
  93     1442.962E0       1.115E0\r
  94     1464.350E0       1.572E0\r
  95     1468.705E0       1.841E0\r
  96     1447.894E0       2.047E0\r
  97     1457.628E0       2.200E0\r